適用製品
微小変位測定システム及び微小変位測定方法
目的
構造物の微小変位を画像計測によって測定する際に、確実に不動点を確保することができ、カメラの揺れなどの影響を補正して高精度の測定を行うことができる微小変位測定システム及び微小変位測定方法を提供する。
効果
測定対象にクローズアップして構造物の微小変位を画像計測によって測定する際に、確実に不動点を確保することができ、カメラの揺れなどの影響を補正して高精度の測定を行うことができる。
技術概要
構造物の微小変位を画像計測によって測定するための微小変位測定システムであって、
前記画像計測を行うために前記構造物の表面を撮影するビデオカメラと、
前記ビデオカメラに隣接した位置に設置されて前記構造物の表面にレーザー不動点を表示させるレーザー照射装置と、
前記レーザー照射装置に取り付けられる自己振動計測装置と、
前記ビデオカメラによって撮影された動画から測定対象の変位を演算する演算処理部とを備え、
前記測定対象が撮影された画像には前記レーザー不動点も撮影されており、
前記演算処理部では、前記測定対象と前記レーザー不動点との動画上の相対変位量を求めるとともに、前記自己振動計測装置の計測結果から求められる前記レーザー不動点の移動量を取り込むことで、前記測定対象の実際の変位を算出することを特徴とする微小変位測定システム。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
