ひび割れ指標の校正方法

開放特許情報番号:L2026001179 開放特許情報登録日:2026/8/5 最新更新日:2026/8/5

基本情報
出願番号
公開番号
出願日
2024/9/25
公開日
2026/4/6
出願人
公益財団法人鉄道総合技術研究所
権利化状況
権利化前
発明の名称
ひび割れ指標の校正方法
開放特許情報
技術分野
情報・通信 土木・建築
機能
その他
適用製品
ひび割れ指標の校正方法
目的
撮影した2時期で撮影装置の性能が異なる場合でも、ひび割れ指標の評価結果の連続性を確保することが可能になるひび割れ指標の校正方法を提供する。
効果
撮影した2時期で撮影装置の性能が異なる場合でも、ひび割れ指標の評価結果の連続性を確保することができるようになる。
技術概要
撮影装置によって撮影された画像に基づいて算出されるひび割れ指標の校正方法であって、
検査対象となる一連の複数箇所に対して、異なる性能の撮影装置によって撮影された撮影時期の異なる画像のそれぞれについてひび割れ指標を求めるステップと、
前記異なる性能の撮影装置の性能差を示す補正係数を、前記複数箇所において求められた前記ひび割れ指標の差分に基づいて求めるステップと、
前記補正係数を使用して該当する撮影時期の前記ひび割れ指標を補正するステップとを備え、
前記補正係数は、前記複数箇所において前記ひび割れ指標が大きくなる割合に基づいて上位の前記差分を0にするとともに、残りの差分の総和を最小にする値として求められることを特徴とするひび割れ指標の校正方法。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
固定URLをクリップボードにコピーしました。
Copyright © INPIT Rights Reserved