ウエハレベルパッケージ構造およびその製造方法

開放特許情報番号:L2026001125 開放特許情報登録日:2026/7/27 最新更新日:2026/7/27

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2011/3/14
公開日
2012/3/22
出願人
株式会社ディスコ
特許権者
株式会社ディスコ
権利化状況
権利化済
発明の名称
ウエハレベルパッケージ構造およびその製造方法
開放特許情報
技術分野
電気・電子
機能
材料・素材の製造
適用製品
ウエハレベルパッケージ構造およびその製造方法
目的
切削刃の磨耗を抑制して切削刃の寿命を延ばすことが可能なウエハレベルパッケージ製造方法を提供する。
効果
切削刃の磨耗を抑制して切削刃の寿命を延ばすことが可能なウエハレベルパッケージの製造方法を提供可能である。また、配線を形成する金属の配線パターンが歪むことが防止されるので、安価でありながら微細なパターン加工が実現きるという顕著な効果を有する。
技術概要
基板の表面に、配線が形成される溝を含む絶縁性の第1の樹脂を形成する樹脂形成工程と、
前記第1の樹脂の表面に、前記配線の一部となる第1の金属を、物理気相成長によって成膜する第1の成膜工程と、
前記第1の金属の表面に、前記配線の一部となる、前記第1の金属より硬度が低い第2の金属を成膜する第2の成膜工程と、
前記溝の側面に前記第1の金属が成膜されていない高さに、切削刃を設置する設置工程と、
前記切削刃を走査することにより、少なくとも前記第1の樹脂を切削する切削工程と、を含む、ことを特徴とするウエハレベルパッケージの製造方法。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
登録者名称
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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