磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法
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開放特許情報番号：
L2026000343
開放特許情報登録日：
2026/2/13
最新更新日：
2026/2/13
基本情報
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出願番号
特願2023-207222
公開番号
特開2025-091769
出願日
2023/12/7
公開日
2025/6/19
出願人
慶應義塾
権利化状況
権利化前
発明の名称
磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法
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技術分野
電気・電子
情報・通信
機能
材料・素材の製造
適用製品
磁性薄膜チップ、磁気測定装置及び磁性薄膜チップの製造方法
目的
高いＡＭＲ比を有することができる磁性薄膜チップを提供する。
効果
高いＡＭＲ比を有することができる。
技術概要
有機基板と、
前記有機基板の主面に設けられた、矩形状の平面形状を有する磁性薄膜と、
有し、
前記磁性薄膜の表面の算術平均粗さＲａが、０．６５ｎｍ以下である、磁性薄膜チップ。
イメージ図
実施実績 ：
無
許諾実績 ：
無
特許権譲渡 ：
否
特許権実施許諾：
可
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登録者名称
学校法人慶應義塾
その他の情報
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関連特許
（国内）:
無
（国外）:
無
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