干渉装置、偏光制御方法及び偏光制御プログラム

開放特許情報番号:L2026000234 開放特許情報登録日:2026/2/2 最新更新日:2026/2/2

基本情報
出願番号
公開番号
WO2023/100668
出願日
2022/11/17
公開日
2023/6/8
出願人
国立大学法人 東京大学
権利化状況
権利化前
発明の名称
干渉装置、偏光制御方法及び偏光制御プログラム
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
機械・部品の製造 制御・ソフトウェア
適用製品
干渉装置、偏光制御方法及び偏光制御プログラム
目的
光損失によって情報の品質が劣化する量子光の量子的性質の低下を抑制することが可能な干渉装置、偏光制御方法及び偏光制御プログラムを提供する。
効果
光損失によって情報の品質が劣化する量子光の量子的性質の低下を抑制することが可能な干渉装置、偏光制御方法及び偏光制御プログラムを提供することができる。
技術概要
第1量子光を伝送し、かつ、前記第1量子光を出力する第1導波路と、
第2量子光を伝送し、かつ、前記第2量子光を出力する第2導波路と、
前記第1導波路から出力された第1偏光状態の前記第1量子光と、前記第2導波路から出力された第2偏光状態の前記第2量子光とから第1干渉光及び第2干渉光を生成する第1ビームスプリッタと、
前記第1導波路に第1作用を与え、前記第1作用に基づく複屈折によって前記第1偏光状態を第3偏光状態に変更する第1偏光状態変更部と、を備え、
前記量子光は、光損失によって情報の品質が劣化する光である、
干渉装置。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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