適用製品
分子構造を単結晶Ｘ線解析によって特定する方法
目的
分子構造を単結晶Ｘ線解析によって特定する新規方法を提供する。
効果
簡便で効率的に、結晶化困難な被験分子のＸ線解析が可能となる。
技術概要
Ｘ線または中性子線による被験分子の構造解析方法であって、
（Ａ）前記被験分子を含む試料と、前記被験分子を包接可能な金属錯体とを混合して、被験分子−金属錯体包接体を生成するステップと、
（Ｂ）前記包接体および結晶化溶媒を含む結晶化液であって、前記包接体を含む包接液を分注して、少なくとも第１結晶化液および第２結晶化液を含む複数の独立した結晶化液を調製するステップと、
（Ｃ）前記複数の独立した結晶化液において、それぞれ類似または異なる結晶化条件の下で複数の結晶を生成させるステップと、
（Ｄ）ステップ（Ｃ）で生成した前記複数の結晶をスクリーニングして、対象結晶を選択するステップと、
（Ｅ）前記対象結晶にＸ線または中性子線を照射して回折データを取得するステップと、
（Ｆ）前記回折データを解析して前記被験分子の構造を決定するステップと
を含む、方法。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
