X線CT検査における被曝線量実測値をCT画像を援用して解析するシステム

開放特許情報番号:L2025001155 開放特許情報登録日:2025/10/21 最新更新日:2025/10/21

基本情報
出願番号
公開番号
出願日
2023/7/6
公開日
2024/10/1
出願人
国立大学法人金沢大学
権利化状況
権利化前
発明の名称
X線CT検査における被曝線量実測値をCT画像を援用して解析するシステム
開放特許情報
技術分野
食品・バイオ 化学・薬品
機能
制御・ソフトウェア
適用製品
被曝線量測定技術
目的
X線CT装置にて取得されたCT画像の被検者の診断に用いられていない部分の情報を有効に活用することで、線量計に対する放射線の入射方向を推定し、少数の線量計を用いて精度の高い解析ができる放射線線量の解析システムの提供。
効果
X線の入射方向を推定することで、線量分布を線量の実測値にフィッティングする。
線量計を用いた実測値から、被検者の表面線量の最大値と最小値および平均値を高精度に解析できる。
技術概要
模擬ファントムを用いた放射線線量の線量分布の作成手段と、被検者を撮像したX線CT画像のSD(CT値の標準偏差)分布の作成手段を備え、
前記線量分布と前記SD分布とからX線の入射方向を推定することで被検者への正しい被曝線量を解析する解析手段を有することを特徴とする被曝線量解析システム。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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