顕微計測方法及び顕微計測装置

開放特許情報番号:L2025000722 開放特許情報登録日:2025/6/16 最新更新日:2025/6/16

基本情報
出願番号
公開番号
出願日
2023/9/11
公開日
2025/3/24
出願人
国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
権利化状況
権利化前
発明の名称
顕微計測方法及び顕微計測装置
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
機械・部品の製造 検査・検出
適用製品
顕微計測方法及び顕微計測装置
目的
試料の深さ方向について、化学相などの物性の分布を評価する。
効果
試料の深さ方向について、化学相などの物性の分布を評価することができる。
技術概要
放射光γ線ビームを面直方向から試料に照射する照射工程と、
複数のエネルギー領域の各々について、前記放射光γ線ビームを照射された試料から生じる内部転換電子のうち、そのエネルギー領域に属する内部転換電子を計数する計数工程と、
前記複数のエネルギー領域の各々に対応する深さにおける前記試料の物性を、前記計数工程における計数結果に基いて評価する評価工程と、を含んでいる、
顕微計測方法。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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