目的
レンズの歪曲収差を測定する際の手間を減らすと共に、歪曲収差を高精度に測定可能な校正用パターン光投射装置を提供する。
効果
レンズの歪曲収差を測定する際の手間を減らすと共に、歪曲収差を高精度に測定することができる。
技術概要
カメラに装着されたレンズの歪曲収差を測定するための校正用パターン光を、所定の物体へ投射する校正用パターン光投射装置であって、
光源を用いて前記校正用パターン光を発生するパターン光発生部と、
前記パターン光発生部により発生した前記校正用パターン光を反射させ、前記所定の物体へ投射するハーフミラーと、を備え、
前記光源から前記ハーフミラーを介して前記所定の物体までの間の光路長と、前記レンズの第一主点から前記ハーフミラーを介して前記所定の物体までの間の光路長とが一致しており、
前記校正用パターン光が前記所定の物体へ投射されると、前記所定の物体の表面で反射した反射光が、前記ハーフミラーを透過し前記レンズを介して前記カメラの焦点面に結像する、ことを特徴とする校正用パターン光投射装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
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