適用製品
マイクロメータ等の測長器具を校正する際に用いられるブロックゲージに規定される被測定箇所を示すブロックゲージ用治具と、該ブロックゲージ用治具を移動させる移動部材
目的
測長器具の校正時にブロックゲージの被測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具及び移動部材を提供する。
効果
測長器具の校正時にブロックゲージの被測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具及び移動部材が提供される。
技術概要
測長器具の校正に用いられるブロックゲージの前面及び後面のそれぞれに規定される一対の被測定箇所を示すブロックゲージ用治具であって、
上部及び下部に該ブロックゲージを出し入れ可能にする一対の開口部を有し、該ブロックゲージの該前面と、該後面と、両側面と、のそれぞれの一部を被覆するように該ブロックゲージが嵌め入れられる筐体と、
該筐体の前面及び後面のそれぞれに設けられ該筐体に嵌め入れられた該ブロックゲージの該被測定箇所を露出する一対の露出部と、
該露出部で露出される該ブロックゲージの該被測定箇所を示す目印部と、を備え、
該ブロックゲージが該筐体に嵌め入れられた状態で該ブロックゲージに対して上下方向に移動可能であることを特徴とするブロックゲージ用治具。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
