適用製品
デジタルマイクロメータ等の測長器具を校正する際に用いられるブロックゲージの被測定箇所を規定する治具及び該治具に収容されたブロックゲージを押し出す押し出し器具
目的
ブロックゲージを用いた校正時にブロックゲージの被測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具を提供する。
効果
ブロックゲージを用いた校正時にブロックゲージの測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具が提供される。
技術概要
測長器具の校正に用いられるブロックゲージの被測定箇所を規定するブロックゲージ用治具であって、
該ブロックゲージ用治具は、ブロックゲージを収容する筐体と、該筐体に設けられ該筐体に対してブロックゲージを出し入れ可能にする開口部と、該筐体に収容された該ブロックゲージの被測定箇所を規定するように該筐体の一部が切り欠かれて形成された一対の切り欠き部と、を備え、
該測長器具の校正に用いられる該ブロックゲージの一対の面が該一対の切り欠き部からそれぞれ露出することを特徴とするブロックゲージ用治具。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
