MTF測定装置およびそのプログラム

開放特許情報番号:L2024001850 開放特許情報登録日:2024/10/16 最新更新日:2024/10/16

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2020/12/17
公開日
2021/6/24
出願人
日本放送協会
特許権者
日本放送協会
権利化状況
権利化済
発明の名称
MTF測定装置およびそのプログラム
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
制御・ソフトウェア
適用製品
撮像系の空間周波数特性を示すMTFを測定するMTF測定装置およびそのプログラム
目的
チャートに均一に照明が照射されていない場合でも、輝度を補正して精度よくMTFを測定することが可能なMTF測定装置およびそのプログラムを提供する。
効果
照明の均一性を確保することが困難な測定環境であっても、精度よくMTFを測定することができる。
技術概要
境界でコントラストの異なるチャートを用いて、撮像系の空間周波数特性を表すMTFを測定するMTF測定装置であって、
撮像系が前記チャートを撮像したチャート画像から、境界を含んだ画像であるROI画像を抽出するROI画像抽出手段と、
ROI画像から、エッジおよびその傾きを検出するエッジ検出手段と、
ROI画像の画素位置と、画素位置を前記エッジの傾きに沿って投影した、ROI画像の画素幅よりも小さい画素幅を単位とする投影軸のビンとを対応付ける投影位置対応付け手段と、
ROI画像の前記エッジの近傍以外の画像領域において、輝度分布の勾配補正率を一次関数で近似する勾配補正率関数近似手段と、
一次関数を用いて前記ROI画像の画素位置ごとの輝度分布の勾配補正率を算出する勾配補正率算出手段と、
ROI画像の画素位置ごとの画素値を、輝度分布の勾配補正率で補正し、対応するビンに投影する勾配補正投影手段と、
ビンに投影された画素値をビンごとに平均化してエッジプロファイルを生成する平均化手段と、
エッジプロファイルからMTFを算出する周波数特性算出手段と、
を備えることを特徴とするMTF測定装置。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
固定URLをクリップボードにコピーしました。
Copyright © INPIT Rights Reserved