適用製品
パルス状の電子ビームの縦方向位相空間分布を測定するための測定装置及び測定方法
目的
パルス状の荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を容易に測定可能な測定装置及び測定方法を実現する。
効果
荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を容易に測定することができる。
技術概要
パルス状の荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を測定する測定装置であって、
偏向磁石を用いて、前記荷電粒子ビームの線状経路を、エネルギーの異なる荷電粒子が通過する複数の経路を含む面状経路に変換する変換機構と、
前記荷電粒子ビームの縦方向位相空間分布を、前記荷電粒子ビームによって電気光学結晶において偏光方向が変化したプローブレーザ光の二次元強度分布として測定する測定機構と、を備えている、
ことを特徴とする測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
