適用製品
データ取得装置、データ補正装置、データ補正方法、プログラム及び記録媒体
目的
結晶の表面の変化だけでなく、内部の変化の情報も秒単位で取得する技術を提供する。
効果
結晶の表面の変化だけでなく、内部の変化の情報も秒単位で取得する技術を提供することができる。
技術概要
Ｘ線結晶トランケーションロッド散乱測定装置により得られる経時的測定データである第１の測定データと、反射高速電子線回折装置により得られる経時的測定データである第２の測定データとを並行して取得する取得部と、
前記第２の測定データを用いて前記第１の測定データを時間補正する補正部と、
を備えるデータ取得装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
