3次元形状測定装置、3次元形状測定方法、及び3次元形状測定プログラム

開放特許情報番号:L2024000833 開放特許情報登録日:2024/4/17 最新更新日:2024/4/17

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2017/8/15
公開日
2019/3/7
出願人
学校法人 工学院大学
特許権者
学校法人 工学院大学
権利化状況
権利化済
発明の名称
3次元形状測定装置、3次元形状測定方法、及び3次元形状測定プログラム
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
制御・ソフトウェア 機械・部品の製造
適用製品
3次元形状測定装置、3次元形状測定方法、及び3次元形状測定プログラム
目的
複雑な3次元形状を精度良く測定することができる3次元形状測定装置、3次元形状測定方法、及び3次元形状測定プログラムを提供する。
効果
複雑な3次元形状を精度良く測定することができる、という効果を有する。
技術概要
物体の表面を複数の撮影角度から撮影した複数の撮影画像を取得する取得部と、
前記複数の撮影画像に基づいて、逆投影法により前記物体の複数の断層像を算出する算出部と、
前記撮影画像の一部の画像をテンプレート画像として、前記複数の断層像の中から前記テンプレート画像と一致する断層像を抽出する抽出部と、
を備えた3次元形状測定装置。
アピール内容
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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