適用製品
任意の時間幅をもつ光パルスの分光強度と分光位相を測定する装置及び方法
目的
任意の時間幅をもつ光パルスの分光強度及び分光位相の絶対値を測定する装置及び方法を提供する。
効果
任意の時間幅をもつ光パルスの強度と位相を測定することができる。
技術概要
時間ｔと共に変化する電場Ｅ↓０（ｔ）をもつ被計測光パルスと電場Ｅ↓ｒ（ｔ）をもつ参照光パルスとの時間遅延τを変更する光遅延手段と、
前記光遅延手段で遅延された電場Ｅ↓ｒ（ｔ−τ）をもつ前記参照光パルスと前記被計測光パルスとを非線形混合して次式（★は一般的な非線形混合を表す演算子であり、αはその非線形混合における非線形感受率に比例する係数である。）で表される信号光パルスを作る非線形混合手段と、
前記信号光パルスを分光して次式（Ｆはフーリエ変換を表す記号である。↑＊は複素共役を表す。Ｒは実数部（Real part）を表す記号である。）で表されるフーリエ変換信号を出力するイメージング分光装置と、
を有し、
周波数分解光ゲート信号に相当する前記フーリエ変換信号の第２項の信号と電気光学サンプリング信号に相当する前記フーリエ変換信号の第３項の信号から前記被計測光パルスの強度と位相を求めることを特徴とする光パルスの強度と位相の測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
