適用製品
各光出射端における出射光同士の位相のバラツキを計測する位相計測装置および、その位相のバラツキを補償する位相補償装置
目的
補償量が局所最適解に陥ることなく、マルチ光導波路の初期位相を補償するための最適解を高精度に求め得る位相計測装置を提供する。
また、マルチ光導波路の出射光の初期位相を補償するための最適解を高精度に求めるとともに、この最適解を用いてマルチ光導波路の出射端における出射光の初期位相を補償し得る位相補償装置を提供する。
効果
従来技術において問題となっていた、補償量が局所最適解に陥る状態となる、ことを阻止することができ、マルチ光導波路の初期位相を補償するための最適解を定量的かつ高精度に求めることが可能である。
また、補償量が局所最適解に陥る状態となる、ことを阻止することができ、この最適解を用いてマルチ光導波路の初期位相を高精度に補償することができる。
技術概要
可干渉光を出射する光源１０からの出射光を複数に分割し、そのうちの１本の光ビームを参照光とするとともに、その余の複数の光ビームを光フェーズドアレイ３０内を通過させ、光出射端３５から出射させて物体光束とし、この物体光束と参照光を干渉させて得られた干渉縞情報を撮像する干渉縞情報取得部５０と、得られた干渉縞情報から干渉縞情報取得部５０における物体光束の複素振幅分布を求める複素振幅分布演算部６１と、得られた複素振幅分布を、上記光出射端３５まで逆伝搬させる逆伝搬演算部６２と、逆伝搬して得られた上記光出射端３５の複素振幅分布から、光出射端３５各々の位相分布を求める光出射端位相分布演算部６３と、を備えている。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
