適用製品
干渉ＳＡＲの計測パラメータを推定する計測パラメータ推定装置及びそのプログラム
目的
緊急時においても、干渉ＳＡＲの計測パラメータを高精度に推定できる計測パラメータ推定装置及びそのプログラムを提供する。
効果
緊急時においても、干渉ＳＡＲの計測パラメータを高精度に推定することができる。
技術概要
所定のＧＣＰ候補及び参照ＤＴＭが入力され、ＧＣＰ候補及び参照ＤＴＭから干渉ＳＡＲの計測パラメータを推定する計測パラメータ推定装置で、
収束アルゴリズムによって、ＧＣＰ候補から計測パラメータを推定する計測パラメータ推定手段と、
推定した計測パラメータに基づいて、ＧＣＰ候補におけるＳＡＲＤＳＭを算出するＳＡＲＤＳＭ算出手段と、
参照ＤＴＭとＳＡＲＤＳＭとの差分を表す差分高度ヒストグラムを生成するヒストグラム生成手段と、
１個から予め設定した個数までの正規分布のそれぞれで、差分高度ヒストグラムをフィッティングするフィッティング手段と、
情報量基準によって、各個数の正規分布のうち、差分高度ヒストグラムに最もフィッティングする正規分布の個数を決定する正規分布決定手段と、
正規分布決定手段が決定した個数の正規分布において、予め設定した分布上限値を超えるＧＣＰ候補を偽ＧＣＰ候補として抽出する偽ＧＣＰ候補抽出手段と、
予め設定した終了条件を満たすまで、各手段に繰り返し処理を指令する制御手段と、を備え、
計測パラメータ推定手段は、計測パラメータを推定する際、ＧＣＰ候補から偽ＧＣＰ候補を除外する計測パラメータ推定装置。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
