目的
従来のエッジ法よりも計算コストを抑え、直線でないエッジからでもＭＴＦを測定することが可能なＭＴＦ測定装置およびそのプログラムを提供する。
効果
エッジの傾きを検出することがないため、計算コストを抑えることができる。これによって、小規模なＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）でも実装することが可能になる。
また、エッジが直線でなくてもＭＴＦを測定することができる。これによって、専用のチャートを用いなくても、エッジを有する箇所を撮像するだけで、ＭＴＦを測定することが可能になる。
技術概要
撮像系の空間周波数特性を示すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置であって、
前記撮像系によって撮像された、傾きを有するエッジを含んだエッジ画像において、前記エッジを含んだ矩形形状の領域であるＲＯＩを設定するＲＯＩ設定手段と、
前記ＲＯＩにおいて、前記エッジを含むラインごとに離散フーリエ変換を行うことで、前記ラインごとのＭＴＦであるラインＭＴＦを算出するラインＭＴＦ算出手段と、
前記ラインＭＴＦを予め定めた空間周波数ごとに前記ＲＯＩのライン数で平均化して平均ＭＴＦを算出するラインＭＴＦ平均化手段と、
前記平均ＭＴＦからエイリアシング成分を除去する補正を行うエイリアシング除去手段と、
を備えることを特徴とするＭＴＦ測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
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