GaN基板の製造方法

開放特許情報番号:L2023000613 開放特許情報登録日:2023/6/19 最新更新日:2025/8/26

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2021/2/25
公開日
2022/9/6
出願人
国立大学法人山口大学
特許権者
国立大学法人山口大学
権利化状況
権利化済
発明の名称
GaN基板の製造方法
開放特許情報
技術分野
無機材料 金属材料 電気・電子
機能
機械・部品の製造
適用製品
GaN基板の製造方法
目的
HVPE法により、ベース基板の非半導体の表面から結晶品質の高いGaNを結晶成長させる。
効果
ベース基板の非半導体の表面を、1000℃を越える温度下で、N2ガス及びNH3ガスを用いて窒化処理した後、HVPE法により、キャリアガスとしてN2ガスを用いて、ベース基板の非半導体の表面からGaNを結晶成長させることにより、結晶品質の高いGaNを結晶成長させることができる。
技術概要
ベース基板の非半導体の表面を、1000℃を越える温度下で、N2ガス及びNH3ガスを用いて窒化処理した後、HVPE法により、キャリアガスとしてN2ガスを用いて、前記ベース基板の非半導体の表面からGaNを結晶成長させるGaN基板の製造方法。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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