適用製品
放射線分析方法、放射線分析装置、これに用いられる放射線検出器
目的
高線量下においても放射線検出器で得られたエネルギースペクトルの解析によって試料の分析を高精度で行う。
効果
高線量下においても放射線検出器で得られたエネルギースペクトルの解析によって試料の分析を高精度で行うことができる。
技術概要
複数の放射性の核種が混在する試料から発せられる放射線のエネルギースペクトルを測定し、前記試料に含まれる前記核種を認識する放射線分析方法であって、
前記放射線を検出する放射線検出器において、同一測定対象に対する検出強度が異なるような複数の条件が、設定条件として定められ、
前記試料を前記放射線検出器で測定したエネルギースペクトルである実測スペクトルを得る試料測定工程と、
前記実測スペクトル中における、前記核種のうちで前記放射線における寄与が最も大きな前記核種である背景核種に起因する成分である背景核種起因成分を、前記設定条件毎に前記放射線検出器で測定して得られた結果より推定する背景核種起因成分推定工程と、
前記実測スペクトルから前記背景核種起因成分を差し引いた補正後スペクトルを算出する補正後スペクトル算出工程と、
を具備し、
前記補正後スペクトルによって前記試料の分析を行うことを特徴とする放射線分析方法。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
