適用製品
動的光散乱測定装置、動的光散乱測定・解析方法、および、測定・解析プログラム
目的
液体試料中の任意の粒子の粒径および／または粒径分布を、動的光散乱法を用いて機器や外光の影響を排除し、１回の計測で正しく測定する動的光散乱測定装置、その測定・解析方法、および、その測定・解析プログラムを提供する。汚染物質の影響を排除し、１回の計測で正しく測定する動的光散乱測定装置、その測定・解析方法、および、その測定・解析プログラムを提供する。
効果
情報処理装置が、すべての電気パルス到達時間リストを作成後に処理を行うため、測定後の処理時に相関関数の適切な時間幅に基づいた正確な粒径および／または粒径分布の測定を可能とする。ダークカウントや外光による影響のない光子到達時間リストを用いて時間相関関数が演算されるので、正確な粒径および／または粒径分布を測定できる。
技術概要
粒子を含有する液体試料中の粒子の粒径および／または粒径分布を動的光散乱法により測定する装置であって、
パルスレーザ光を発し、液体試料に照射する光源部と、
液体試料からの散乱光子の到達時間を検出し、電気パルスを生成する光子検出装置と、
光源部がパルスレーザ光を発するタイミングを通知するパルスレーザ光タイミング装置と、
電気パルスの到達時間およびパルスレーザ光のタイミングを収集し、電気パルス到達時間リストおよびパルスレーザ光タイミングリストを生成するデータ収集装置と、
パルスレーザ光タイミングリストを用いて電気パルス到達時間リストを処理する情報処理装置と
を備え、
情報処理装置は、
電気パルス到達時間リストとパルスレーザ光タイミングリストとを比較し、電気パルス到達時間リストからパルスレーザ光タイミングリストに同期したデータのみを抽出し、光子到達時間リストを作成する光子到達時間リスト作成部と、
光子到達時間リストを用いて時間相関関数を演算する時間相関関数演算処理部と、
演算された時間相関関数を用いて粒子の粒径および／または粒径分布を演算する粒径演算部と
をさらに備える、動的光散乱測定装置。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
