適用製品
立方晶を除く結晶性材料の損傷度の評価方法および立方晶を除く結晶性材料の損傷度の評価装置
目的
立方晶を除く結晶性材料の損傷度について精度の高い評価が可能な評価方法を提供する。
効果
立方晶を除く結晶性材料の損傷度について精度の高い評価が可能な評価方法を提供することができる。
技術概要
立方晶を除く結晶性材料の損傷度の評価方法であって、
前記結晶性材料に放射線を照射して得られる回折波のうち前記結晶性材料を構成する結晶の主すべり系に属する結晶面における回折波を用いて前記結晶性材料の損傷度を評価する、結晶性材料の損傷度の評価方法。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
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