適用製品
回折環の一部に欠落が生じた場合にも有効な応力解析方法
目的
Ｘ線の照射によって計測対象物から得られる回折環の一部に欠落があった場合にも有効なεα（ひずみ）直線近似法による応力解析方法の提供。
効果
フーリエ法に比べてデータ処理過程において誤差が発生しにくい特徴を有する。
これにより、測定誤差の混入やデータの欠落が生じても、実用範囲内の精度で応力を得ることができる。
技術概要
計測対象物にＸ線を照射し、当該計測対象物にて回折したＸ線により形成される回折環の計測に基づいて前記計測対象物の応力を解析する応力解析方法であって、
θ：Ｂｒａｇｇ角，α：回折環の中心角，εα：中心角αに対応するひずみ，η：θの余角，ψ０：計測対象物の表面の法線と入射Ｘ線ビームとのなす角，Ε：回折ヤング率，ν：回折ポアソン比とすると、
中心角αにおけるひずみεαを一次式で近似した下記式（１−１）又は（１−２）から係数ａ’１を求め、
応力のσｘを下記式（２）にて求めることを特徴とする応力解析方法。
【数１】
又は、
（ａ’０：定数、ａ’１：係数）
【数２】
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
