適用製品
金属材料等の結晶性材料からなる製品のＸ線を用いた非破壊評価方法
目的
回折環を利用した評価精度の高い非破壊材料評価方法の提供。
効果
材料をＸ線照射にて得られる回折環を用いて評価する際に、回折環の部位ごとの浸入深さの変化に基づいて評価するので、従来の一箇所のみや平均値を用いる方法よりも評価精度が向上する。
技術概要
材料に対して所定の入射角にてＸ線を照射して得られる回折環の各部位のＸ線の浸入深さの変化を二次元Ｘ線検出器を用いて取得し、前記Ｘ線の浸入深さの変化から物性に関する情報を評価することを特徴とする材料のＸ線評価方法。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
