適用製品
金属材料等の結晶性材料にＸ線等を照射して、この材料の結晶構造等によりＸ線が回折して形成される回折環に基づいて材料を評価する方法
目的
環境放射線等によるノイズが混在する環境下でも計測が可能な結晶性材料の評価方法の提供。
効果
対象物にＸ線を照射して得られる回折Ｘ線を検出する際に、環境放射線等によるノイズを差分法やフォトンカウンティング法を利用して除去できるので、結晶性材料評価の精度が向上する。
技術概要
対象物にＸ線を照射し、当該対象物にてＸ線が回折して形成される回折環を二次元検出器にて検出して解析する結晶性材料の評価方法であって、
前記Ｘ線を照射して得られた二次元検出器による回折Ｘ線データと、Ｘ線を照射しない状態で検出した二次元検出器による環境放射Ｘ線データとの差分にて、解析することを特徴とする結晶性材料の評価方法。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
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