適用製品
傷付きやすい果実の落下損傷耐性を簡易に検定又は評価できる落下試験方法及びそれに用いられる落下試験装置
目的
イチゴのように傷付きやすい果実の落下損傷耐性を簡易に検定又は評価できる落下試験方法及びそれに用いられる落下試験装置を提供する。
効果
果実間の落下損傷耐性（易損性）を比較することが可能となる。
従来よりも簡易かつ小型化・軽量化した装置で落下試験を実施することが可能となるため、装置の導入コストを低減できるうえに、持ち運びも可能となり、場所を選ばずに落下試験を実施することができる。
技術概要
果実の衝撃への耐性を検定するため、果実を落下させた際の衝撃によって当該果実が受けた損傷を確認する果実の落下試験方法であって、
個々の前記果実と前記果実を載置した硬質板の上面との間に、硬材からなるディスクを挟み込み、前記果実が当該ディスクに接した状態を維持したまま、前記硬質板を落下させることを特徴とする果実の落下試験方法。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
