適用製品
磁気力顕微鏡に用いるための探針、強い直流磁場を発生する磁性体試料の表面磁場を観察する方法および装置
目的
強い直流磁場を発生する磁性体試料についても、磁気力顕微鏡によって高い空間分解能で磁場勾配を観察することを可能にする、磁気力顕微鏡用探針を提供する。
強い直流磁場を発生する磁性体試料の表面近傍において、高い空間分解能で磁場を観察することが可能な、磁場観察装置、および磁場観察方法を提供する。
磁性体試料から生じる直流磁場の正負を含めた絶対値を測定することを可能にする、磁気力顕微鏡用探針を提供する。
効果
強い直流磁場を発生する磁性体試料についても、磁気力顕微鏡によって高い空間分解能で磁場を観察することが可能になる。
強い直流磁場を発生する磁性体試料の表面近傍において、高い空間分解能で磁場を観察することが可能である。また、磁性体試料表面の磁極の極性検出も可能である。
技術概要
少なくとも１種の磁性材料を備え、
少なくとも１０〜３０℃の温度域にわたって、２０ｋＯｅの外部磁場が印加されたときに磁化が飽和せず、
（ａ）前記磁性材料が、１種以上の強磁性元素と１種以上の非磁性元素との固溶体である；
（ｂ）前記磁性材料が、１種以上の強磁性元素と１種以上の非磁性元素とを含む非晶質の磁性材料である；又は
（ｃ）前記磁性材料が、１種以上の強磁性体粒子と１種以上の非磁性材料とを含み、前記強磁性体粒子が前記非磁性材料中に分散されて支持されている構造を有する磁性材料である
ことを特徴とする、磁気力顕微鏡用探針。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
