適用製品
量子ドットデバイスのための測定装置、測定方法、量子ドットの製造方法、量子コンピュータ、量子コンピュータの制御方法、及び集積回路
目的
測定効率の高い量子ドットデバイスの測定技術を実現する。
効果
測定効率の高い量子ドットデバイスの測定技術を実現することができる。
技術概要
量子ドットデバイスのための測定装置であって、
量子ドットデバイスの何れかの位置に配置された接点に対して電磁気学的に接続された信号線における信号を取得する信号取得部と、
所定の目標値と前記信号の示す値との差分を示す差分信号から、前記量子ドットデバイスに配置された荷電センサに供給するための制御信号を生成する生成回路と
を備えていることを特徴とする測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
