過渡吸収応答検出装置および過渡吸収応答検出方法

開放特許情報番号:L2022000067 開放特許情報登録日:2022/1/19 最新更新日:2022/1/19

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2014/2/28
公開日
2017/4/27
出願人
国立大学法人埼玉大学
特許権者
国立大学法人埼玉大学
権利化状況
権利化済
発明の名称
過渡吸収応答検出装置および過渡吸収応答検出方法
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
検査・検出 機械・部品の製造
適用製品
過渡吸収応答検出装置および過渡吸収応答検出方法
目的
過渡吸収応答の測定(複数の周波数成分についての振幅および位相の少なくとも一方の測定)を、プローブ光の1ショット(一連のパルスを照射している狭い時間幅)の期間内に行うことができる過渡吸収応答検出装置および過渡吸収応答検出方法を提供する。
効果
過渡吸収応答の測定(複数の周波数成分についての振幅および位相の少なくとも一方の測定)を、ポンプ光パルスの1回の照射期間内に、フェムト秒の時間分解で行うことができる。
特に、フェムト秒時間分解での波形計測により、光触媒や高分子重合反応の不可逆反応の素過程の追跡も可能となる。
技術概要
1つまたは複数のポンプ光パルスを試料に照射して光励起すると同時に、プローブ光を試料に照射し、透過光または反射光の振幅および位相の少なくとも一方の時間的変化を測定することにより、試料の過渡吸収応答を測定する過渡吸収応答検出装置において、
光周波数コムを発生する光周波数コム源と、
光周波数コムを構成するパルス列の繰返し周波数を増大する光周波数コム変調器と、
パルス列の繰返し周波数が増大した光周波数コムをプローブ光として試料に照射するプローブ光照射系と、
試料に照射し当該試料を光励起するポンプ光照射系と、
過渡吸収応答光としてスペクトル検出器に出射する検出光出射系と、
参照光をスペクトル検出器に出
射する参照光出射系と、
検出光出射系を介して入射したプローブ光の透過光または反射光および、参照光出射系から入射した参照光から、過渡吸収応答光の位相スペクトルまたはさらに振幅スペクトルを検出するスペクトル検出器と、
を備えたことを特徴とする過渡吸収応答検出装置。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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