適用製品
核物質検知装置、核物質検知方法、試料分析方法
目的
一次中性子成分と、これによって試料から発生する二次中性子成分が共に検出される場合に、適切に二次中性子成分を認識して試料の分析を行う。
効果
一次中性子成分（一次信号）と、これによって試料から発生する二次中性子成分（二次信号）が共に検出される場合に、適切に二次中性子成分を認識して試料の分析を行うことができる。
技術概要
核物質が一次放射線の照射に起因した核反応によって発した二次放射線を検出することによって、試料における前記核物質を検知する核物質検知装置であって、
強度が時間的に変化する放射線を前記一次放射線として前記試料に照射する放射線源と、
前記試料の側から発せられた前記放射線を入射の度に検出する放射線検出器と、
一定の測定期間の中において、前記放射線検出器が前記放射線を検出した際に、当該放射線の検出タイミングと、当該放射線よりも前に検出された前記放射線の検出タイミングの時間差を算出する時間差算出部と、
前記時間差のヒストグラムを作成し、当該ヒストグラムにおける前記二次放射線の寄与を推定して前記核物質の検知をする解析部と、
を具備することを特徴とする核物質検知装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
