適用製品
光子の偏光状態推定システム、および、それに用いられる制御プログラム、ならびに光子の偏光状態推定方法
目的
光子の偏光状態推定システムおよびそれに用いられる制御プログラム、ならびに光子の偏光状態推定方法において、光子の偏光状態が動的に変化する系を推定対象とする場合であっても、光子の偏光状態を高精度に推定可能な技術を提供する。
効果
光子の偏光状態推定システムおよびそれに用いられる制御プログラム、ならびに光子の偏光状態推定方法において、光子の偏光状態が動的に変化する系を推定対象とする場合であっても、光子の偏光状態を高精度に推定することができる。
技術概要
光子源から発せられる光子の偏光状態を推定する、光子の偏光状態推定システムであって、
光子源から発せられた光子の偏光状態を測定するための測定基底を規定するパラメータを調整可能に構成され、パラメータに応じて光子源からの光子を２つの偏光成分に分離する測定基底部と、
測定基底部により分離された光子を２つの偏光成分毎に検出する検出装置と、
第１〜第３の処理を繰り返し実行することにより、光子源から発せられる光子の偏光状態を推定する制御装置とを備え、
第１の処理は、光子源から発せられる光子の偏光状態の尤度を表す尤度関数から求まる最尤推定値と、検出装置により検出された偏光成分から定まる偏光状態の測定結果と、所定数前以降の第１の処理での測定結果とから、尤度関数を更新する処理であり、
第２の処理は、第１の処理により更新された尤度関数に基づいて、偏光状態の最尤推定値を算出する処理であり、
第３の処理は、第２の処理により算出された最尤推定値に対応する偏光状態を光子源から発せられる光子が有する場合に当該光子の偏光状態が最も高精度に推定される値に近付くように、パラメータを調整する処理である、光子の偏光状態推定システム。
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登録者情報
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