目的
γ線発生装置−γ線測定器−測定対象物の順に設置して、測定対象物の３次元物質密度分布が測定可能な反射型断層撮影装置を提供する。
効果
γ線発生装置−γ線測定器−測定対象物の順に配置して、測定対象物の３次元物質密度分布が測定可能な反射型断層撮影装置を提供できる。
技術概要
第１のγ線を測定対象物に照射するγ線発生源と、前記第１のγ線が透過するとともに前記測定対象物において散乱角度θで散乱した散乱γ線に関する情報を測定する第１の測定部と、を備え、前記第１の測定部は、前記γ線発生源と前記測定対象物との間に配置されている反射型断層撮影装置。
基本情報
開放特許情報
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