適用製品
シンプルプロファイリング（ＳＰＭ）手法の変換プログラムおよびシンプルプロファイリング（ＳＰＭ）手法の変換方法
目的
容易に精度の高いシンプルプロファイリング手法の変換プログラムおよびシンプルプロファイリング手法の変換方法を提供する。
効果
地質構造境界が明確となり、容易に精度の高いシンプルプロファイリングを実施することができる。これにより、地質学の専門家だけでなく多くの一般ユーザが、高精度の地盤の観測および解析をすることができる。
技術概要
微動アレイ解析により得られる表面波のレイリー波の分散曲線を変換する第１変換処理と、
第１変換処理により得られたデータの不連続部位を抽出する第１抽出処理と、
分散曲線を変換する第２変換処理と、
第２変換処理により得られたデータの不連続部位を抽出する第２抽出処理と、
第１抽出処理により抽出された不連続部位および第２抽出処理により抽出された不連続部位が両方表れるポイントを検出する検出処理とを有し、
微動アレイ解析により得られる表面波のレイリー波の分散曲線を変換する第１変換処理と、
第１変換処理により得られたデータの不連続部位を抽出する第１抽出処理と、
分散曲線を変換する第２変換処理と、
第２変換処理により得られたデータの不連続部位を抽出する第２抽出処理と、
第１抽出処理により抽出された不連続部位および第２抽出処理により抽出された不連続部位が両方表れるポイントを検出する検出処理とを有し、
検出処理は、第１抽出処理により抽出された不連続部位の深さと第２抽出処理により抽出された不連続部位の深さとが一致する場合に、一致する深さの部分を不連続断面として検出する、シンプルプロファイリング（ＳＰＭ）手法の変換プログラム。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
