適用製品
電池の電圧低下を推定する電圧低下推定方法および電圧低下推定装置
目的
過充電メモリー効果に起因する電圧低下を瞬時かつ簡易に推定可能な電圧低下推定方法および電圧低下推定装置を提供する。
効果
過充電メモリー効果に起因する電圧低下を瞬時かつ簡易に推定可能な電圧低下推定方法および電圧低下推定装置を提供することができる。
技術概要
メモリー効果を有する電池の電圧低下推定方法であって、
トリクル充電された前記電池を放電させる第１ステップと、
前記電池の放電直後の端子間電圧を測定して過渡電圧波形を取得する第２ステップと、
前記電池の内部インピーダンスベクトル軌跡の円弧成分に対応するパラメータＲ↓１’とＫＷＷ関数とを含む電圧過渡応答表現式を前記過渡電圧波形にフィッティングさせ、前記パラメータＲ↓１’を導出する第３ステップと、
前記パラメータＲ↓１’を用いて前記電池の高ＳｏＣ領域における電圧低下を推定する第４ステップと、
を含むことを特徴とする電圧低下推定方法。
基本情報
開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
