測定システム

開放特許情報番号:L2020002192 開放特許情報登録日:2020/10/23 最新更新日:2020/10/23

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2016/2/24
公開日
2017/8/31
出願人
株式会社ミツトヨ
特許権者
株式会社ミツトヨ
権利化状況
権利化済
発明の名称
測定システム
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
制御・ソフトウェア
適用製品
測定作業を行いながら測定データの記録や編集を容易に行うための測定システム
目的
利便性が高く、高効率な測定作業を支援する測定システムを提供する。
効果
スムースで効率的な測定ができるようになる。
技術概要
ユーザの顔に装着されてユーザの眼の動きでユーザの視界中のコマンドの選択を認識するアイポインティングデバイスと、
測定対象物を測定して、その測定データを外部出力できる測定機と、
測定データ管理用プログラムを実行することにより測定機の測定データの収集、記録、編集を行う測定データ管理装置として機能するととともに、測定データ管理用のGUI画像データをユーザに提供するホストコンピュータと、
ホストコンピュータから与えられるGUI画像を画面に表示するモニタと、を備える測定システムであって、
アイポインティングデバイスとホストコンピュータとが通信接続され、測定データ管理用のGUI画像データがプロジェクター部からユーザの視界に投射され、
モニタには、測定対象物の形状、測定対象箇所、測定データが表示され、
ユーザがモニタの画面に表示された測定対象箇所を眼の動きのコマンドで選択すると、ホストコンピュータは、視線の位置とモニタ画面の表示内容とを対比して、ユーザが意図する測定対象箇所を特定する
ことを特徴とする測定システム。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
登録者名称
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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