化合物半導体及びその製造方法

開放特許情報番号:L2020002153 開放特許情報登録日:2020/10/9 最新更新日:2022/8/25

基本情報
出願番号
公開番号
WO2018/221711
登録番号
出願日
2018/6/1
公開日
2018/12/6
出願人
国立研究開発法人科学技術振興機構
特許権者
国立研究開発法人科学技術振興機構
権利化状況
権利化済
発明の名称
化合物半導体、コンタクト構造、半導体素子、透明電極、化合物半導体の製造方法及びスパッタガン
開放特許情報
技術分野
電気・電子 金属材料
機能
材料・素材の製造
適用製品
化合物半導体とその製造方法
目的
高ドナー濃度領域においても高い電子移動度を示すn型導電型を示す2元系、3元系または4元系の化合物半導体、より具体的には、13族窒化物半導体膜を容易に製造し、提供する。
効果
高温プロセスを経ることなく、単結晶のスパッタリング膜を形成することができる。
技術概要
窒素と13族元素であるB、Al、GaまたはInからなる群より選ばれる一つの元素を含有する2元系、3元系または4元系の化合物半導体であって、
電子濃度と比抵抗の二つの物性値の組み合わせについて、
(a)電子濃度が1.8×10↑20cm↑-3、且つ、比抵抗が0.25×10↑-3Ω・cm、
(b)電子濃度が3.6×10↑20cm↑-3、且つ、比抵抗が0.25×10↑-3Ω・cm、
(c)電子濃度が6×10↑20cm↑-3、且つ、比抵抗が0.15×10↑-3Ω・cm、
及び、
(d)電子濃度が3×10↑20cm↑-3、且つ、比抵抗が0.15×10↑-3Ω・cm、
の4点で囲まれた数値条件を満たす化合物半導体。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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