III族窒化物半導体基板の製造方法

開放特許情報番号:L2020002098 開放特許情報登録日:2021/1/8 最新更新日:2021/1/8

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2015/3/17
公開日
2016/9/29
出願人
古河機械金属株式会社
特許権者
古河機械金属株式会社
権利化状況
権利化済
発明の名称
III族窒化物半導体基板の製造方法
開放特許情報
技術分野
無機材料 金属材料 電気・電子
機能
材料・素材の製造
適用製品
III族窒化物半導体基板、及び、III族窒化物半導体基板の製造方法
目的
平坦性の高いIII族窒化物半導体基板及びその製造方法の提供。
効果
III族窒化物半導体基板の表面を平坦化する新たな方法が実現される。
技術概要
III族窒化物半導体で構成された第1のIII族窒化物半導体層を準備する準備工程と、
前記第1のIII族窒化物半導体層の第1の面上に、III族窒化物半導体結晶をエピタキシャル成長させることで、露出している成長面が前記第1のIII族窒化物半導体層の前記第1の面よりも平坦性が高い第2のIII族窒化物半導体層を形成する成長工程と、
を有し、
前記成長工程では、互いに膜組成が異なる3つの膜が積層した前記第2のIII族窒化物半導体層を形成し、
最下層の膜の成長速度は、0.5μm/hr以上2.0μm/hr以下であり、
前記最下層の直上の膜の成長速度は、1.5μm/hr以上8.0μm/hr以下であり、
最上層の膜の成長速度は、15.0μm/hr以上40.0μm/hr以下であるIII族窒化物半導体基板の製造方法。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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