自立基板の製造方法および自立基板

開放特許情報番号:L2020002086 開放特許情報登録日:2020/12/28 最新更新日:2020/12/28

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2014/5/9
公開日
2015/12/3
出願人
古河機械金属株式会社
特許権者
古河機械金属株式会社
権利化状況
権利化済
発明の名称
自立基板の製造方法および自立基板
開放特許情報
技術分野
無機材料
機能
材料・素材の製造
適用製品
自立基板の製造方法および自立基板
目的
n型不純物を高濃度で含有すると共に、結晶品質に優れた自立基板を提供する。
効果
n型不純物を高濃度で含有すると共に、結晶品質に優れた自立基板を提供することができる。
技術概要
III族窒化物半導体からなる下地基板を準備する工程と、
前記下地基板上に、ハイドライド気相成長法により、III族窒化物半導体層を形成する工程とを含み、
前記III族窒化物半導体層を形成する工程は、n型不純物の濃度が5×10↑(18)cm↑(−3)以上であり、厚さが50μm以上である高濃度領域を形成する工程を含み、
前記高濃度領域を形成する工程では、成長温度を1120℃以上とし、ドーピングガスとしてジクロロシランを用い、
貫通転位密度を5×10↑(6)cm↑(−2)以下とする自立基板の製造方法。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
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登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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