目的
光ファイバ内の各位置における光電界成分の時間軸における連続的な測定を可能にする。
効果
検査装置は、光ファイバの内部の複数の検査位置又は検査領域における光電界成分に関する情報を、連続的に取得することができる。
技術概要
試験光を生成する試験光生成部と、
参照光を生成する参照光生成部と、
（ｉ）前記試験光生成部が生成した前記試験光を測定対象に入射して得られる後方散乱光及び反射光の少なくとも一方と、（ｉｉ）前記参照光生成部が生成した前記参照光とのビート信号を検出するビート信号検出部と、
を備え、
前記試験光生成部は、その周波数が第１周波数から第２周波数まで周期的に変化する前記試験光を生成し、
前記参照光生成部は、その周波数が第３周波数から第４周波数まで周期的に変化する前記参照光を生成し、
前記試験光の周波数の変動周期と、前記参照光の周波数の変動周期とは略同一であり、
前記参照光の周波数変動の変動パターンの始点の出現時刻と、前記試験光の周波数変動の変動パターンの始点の出現時刻との差は、予め定められた条件を満足する、
測定装置。
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開放特許情報
)
登録者情報
その他の情報
