適用製品
テラヘルツ光を用いた偏光測定と、これを利用した非接触の応力検査
目的
テラヘルツ偏光測定装置を用いて、サンプル内部の状態、特に添加物を含む高分子材料の内部状態を非破壊・非接触で簡易に測定できる構成と手法を提供する。
効果
サンプル内部の状態、特に添加物を含む高分子材料の内部状態を非破壊・非接触で簡易に測定することができる。
技術概要
テラヘルツ光源と、
前記テラヘルツ光源から出射されサンプルを透過または反射されたテラヘルツ光を検出する検出器と、
サンプル位置と前記検出器の間に配置されて前記サンプルからの前記テラヘルツ光の偏光を変化させる光学素子と、
前記光学素子による前記偏光の変化を制御する偏光制御手段と、
前記検出器で検出されたテラヘルツ光から偏光成分を検出し、検出した前記偏光成分に基づいて前記サンプルの固有軸の向きと屈折率異方性を決定する解析部と、
を有することを特徴とする光学測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
