適用製品
被測定物から放射される電界強度及び磁界強度を測定する電磁界計測システム
目的
被測定物周辺の電界、磁界を正確に、迅速に、簡易に計測することの可能な電磁界計測システムを提供する。
効果
被測定物周辺の電界、磁界を正確に、迅速に、簡易に計測することの可能な電磁界計測システムを提供することができる。
技術概要
電波源により形成される電磁界に設置される誘電体プローブと、
前記誘電体プローブが前記電磁界に設置されることで当該誘電体プローブから再放射される二次放射波を受信する受信部と、
この受信された二次放射波を解析して前記電磁界の前記誘電体プローブ近傍における局所分布を算出する解析処理部とを具備することを特徴とする電磁界計測システム。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
