適用製品
物質内における陽電子の寿命を測定することによって物質の各種の構造を解析するための陽電子消滅寿命測定装置
目的
γ線検出器の数を多くすれば、陽電子の生成・消滅の際に発せられるγ線の検出効率を高めることはできるものの、これにより陽電子消滅寿命の測定精度を高める。
効果
複数の放射線検出器を並列に用いた場合に、各放射線検出器を同時に用いて高精度の測定を行わせることができる。
技術概要
スタート用検出器又はストップ用検出器として、複数のγ線検出器が、複数のγ線検出器の出力を各々における時間軸上のパルス出力間の関係が維持された状態で混合した単一の入力信号を生成するように接続されて用いられ、
遅延時間のヒストグラムがヒストグラム生成部でγ線検出器毎に得られるように、入力信号を生成する前に複数のγ線検出器のうちの少なくとも一つ以外の出力に対して識別性を付与する識別性生成部を更に具備し、
ヒストグラム生成部は、γ線検出器毎に得られた遅延時間のヒストグラムである個別ヒストグラムの少なくとも一つを遅延時間に対して一様にシフトさせた操作を行った上で、他の個別ヒストグラムに重畳させた全体ヒストグラムを生成し、
寿命算出部は、全体ヒストグラムより、寿命を算出することを特徴とする陽電子消滅寿命測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
