配光測定装置および配光測定方法

開放特許情報番号:L2019000833 開放特許情報登録日:2019/6/12 最新更新日:2019/6/12

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2013/6/14
公開日
2015/1/5
出願人
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
特許権者
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
権利化状況
権利化済
発明の名称
配光測定装置および配光測定方法
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
機械・部品の製造
適用製品
配光測定装置および配光測定方法
目的
配光分布の測定を精度良く行うことを可能にしつつ、その場合であっても当該測定を行う装置が大型化してしまうことがない配光測定装置および配光測定方法を提供すること。
効果
面発光体の配光分布を測定するにあたって、当該測定を精度良く行うことを可能にしつつ、その場合であっても当該測定を行う装置が大型化してしまうことがない。
技術概要
面発光体の配光分布を測定する配光測定装置であって、
前記面発光体の光出射面における部分領域からの出射光のみを取り出す抽出部と、
前記抽出部が取り出す前記部分領域からの出射光を当該部分領域のサイズに対応して規定される距離だけ前記光出射面から光出射方向に離れた位置で受光する受光部と、
前記受光部での受光結果に基づき前記光出射面の全領域からの出射光の配光分布を演算して求めて当該配光分布の測定結果とする演算部と、
を備えることを特徴とする配光測定装置。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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