目的
ＣＴ装置による寸法測定と校正を同時に行うための校正器を提供する。
効果
ＣＴ装置による寸法測定と校正を同時に行うための校正器を提供することができる。
技術概要
測定対象物を支持する支持体（１００）と、前記支持体上に設けられ、寸法が既知であり、および、前記測定対象物と同時にＣＴスキャンされる、校正用の基準体（３１０、３２０、３３０）と、を備える。また、１つの基準体に２種類の測定方向（同一方向及び対向方向）がある場合、スケーリングの校正とオフセットの校正を分けて行うため、全体として、より精度の高い校正をすることができる。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
