目的
座標系に依存せずに回折環に基づく応力測定を可能にする応力測定方法及び応力測定装置を提供する。
効果
座標系に依存せずに回折環に基づく応力測定が可能になる。
技術概要
測定対象物に照射されることによって回折を伴って反射する性質を持つビームを前記測定対象物の特定部分に照射し、
前記特定部分で反射する回折ビームにより形成される回折環のひずみを測定し、
前記特定部分に入射する前記ビームと前記回折ビームとから、前記特定部分での前記ビームの回折を反映する回折ベクトルを決定し、
前記測定の測定結果を、前記回折ベクトルを用いて変換することにより、前記特定部分における前記測定対象物の応力を求める
応力測定方法。
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