GaN層の選択成長方法

開放特許情報番号:L2019000170 開放特許情報登録日:2019/2/13 最新更新日:2019/2/13

基本情報
出願番号
公開番号
登録番号
出願日
2007/3/26
公開日
2008/10/9
出願人
国立大学法人山口大学
特許権者
国立大学法人山口大学
権利化状況
権利化済
発明の名称
GaN層の選択成長方法
開放特許情報
技術分野
電気・電子 無機材料 金属材料
機能
材料・素材の製造 加熱・冷却
適用製品
GaN層の選択成長方法
目的
GaN層の成長方法を改善し、追加の工程を必要とすることなく転位密度低減を図ったGaN層の選択成長方法を提供すること。
効果
凹凸を施した表面を有するサファイア基板上に、追加の工程を必要とすることなく成長条件を調整するのみで、転位密度の低いGaN層の選択成長が実現される。
技術概要
凹凸表面を有するサファイア基板に、アンモニアガス、水素及び窒素ガスを含む混合ガスを用いるMOVPE法によりGaN層を形成する方法において、成長温度T(℃)とガス雰囲気に係るF値(=水素流量/(水素流量+窒素流量))(容積比)を下記関係に調整することを特徴とするGaN層の形成方法。
F>−0.004T+5.2
但し、F≦1.0
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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