適用製品
ポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法
目的
より高性能なポジトロン断層測定装置及びポジトロン画像の構成方法を提供すること。
効果
より高性能なポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法を提供することができる。
技術概要
シンチレーター層と、前記シンチレーター層を挟み互いの延伸方向が異なる一対の波長変換ファイバー層とを備える検出部と、
前記シンチレーター層の発光位置を特定する発光位置特定部と、
前記発光位置推定部が推定する発光位置に基づき画像構成を行う画像構成部と、を備えるポジトロン断層測定装置。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
