ナノメーター標準原器及びナノメーター標準原器の製造方法

開放特許情報番号:L2018001625 開放特許情報登録日:2018/8/7 最新更新日:2018/8/7

基本情報
出願番号
公開番号
WO2013/069067
登録番号
出願日
2011/11/11
公開日
2013/5/16
出願人
学校法人関西学院
特許権者
学校法人関西学院
権利化状況
権利化済
発明の名称
ナノメーター標準原器及びナノメーター標準原器の製造方法
開放特許情報
技術分野
情報・通信
機能
機械・部品の製造
適用製品
ナノメーター標準原器
目的
大気中又は真空中で使用可能であるとともに、測定器を高精度に校正可能なナノメーター標準原器を提供する。
効果
素材としてSiCを用いているため、耐熱性に優れたナノメーター標準原器が実現できる。また、SiCは、大気中の物質と反応しにくいので、ステップの高さの精度を長期間にわたって維持可能なナノメーター標準原器が実現できる。また、Si面とC面の両面にステップ/テラス構造が形成されていることにより、例えば測定環境が高温真空下であるSTM等にはSi面を使用し、測定環境が常温の大気圧下であるAFM等にはC面を使用することができる。従って、測定環境の違いにも柔軟に対応できる多機能なナノメーター標準原器が実現できる。
技術概要
長さの基準となる標準長さを有するナノメーター標準原器において、
ステップ/テラス構造が形成された単結晶のSiC層を有する基板を備えており、
前記SiC層に形成されたステップの高さは、単結晶SiC分子の積層方向の1周期分であるフルユニットの高さ、又は単結晶SiC分子の積層方向の半周期分であるハーフユニットの高さと同一であり、
前記ステップの高さが前記標準長さとして用いられ、前記基板のSi面とC面の両面にステップ/テラス構造が形成されていることを特徴とするナノメーター標準原器。
イメージ図
実施実績   :
許諾実績 :
特許権譲渡  :
特許権実施許諾:
登録者情報
登録者名称
その他の情報
関連特許
(国内):
(国外):
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