適用製品
コンタクトプローブ及びその製造方法、非破壊的なコンタクト形成方法、多層膜の製造過程における測定方法及びプローバー
目的
ｎｍ厚さの膜に対しても非破壊的な電気コンタクトを可逆的に形成することができるコンタクトプローブを提供すること。
効果
配線や電極パッドを作製せずに電気特性評価ができ大幅な時間短縮が可能になるほか、ＸＰＳによるバンドアライメント評価、内部光電効果や起電力測定等の多様な評価・測定も同様に行うことができる。更に、弾性変形領域におけるコンタクトが可能なため、コンタクト対象の試料に痕跡を残さない測定が可能となる。つまり、全く非破壊で可逆的なコンタクトであれば、特性評価後さらに膜を積層し続けることも可能で、製膜条件の最適化へのその場フィードバックや製膜中のモニタリングも可能になる。
技術概要
長手方向に伸び、電気伝導性を有する弾性体の支持体と、
前記支持体に取り付けられ、少なくとも表面の一部が球面の電気伝導性を有する接触部と
を設け、
前記接触部の前記球面の表面をｎｍ厚の膜に非破壊的に接触させて前記膜との電気コンタクトを得るコンタクトプローブ。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
